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직접 개발 요청…상용화 시 생산효율성 제고 전략삼성전자가 최근 복수의 협력사들로부터 메모리 패키징용 차세대 테스트 장비를 도입한 것으로 파악됐다.올 하반기 장비에 대한 평가가 진행될 예정으로,로또1073회상용화 시 테스트 공정의 생산효율성을 크게 높일 수 있을 것으로 관측된다.
8일 업계에 따르면 삼성전자는 지난달부터 엑시콘·네오셈 등 협력사들과 신규 메모리 테스터에 대한 퀄(품질)테스트에 돌입했다. (사진=엑시콘,네오셈 각 사) 
메모리 테스터는 반도체 패키징 공정에서 칩의 전기적 특성 및 기능을 최종적으로 검사하는 파이널 테스트(Final Test)에 쓰인다.파이널 테스트는 칩을 평가하는 환경에 따라 저주파(Low-Frequency)와 고주파(High-Frequency) 순으로 진행된다.
이 중 고주파 평가가 전통적인 파이널 테스트에 해당하며,메모리 테스터 역시 고주파 평가에 초점을 맞추고 있다.저주파 평가는 별도의 소형 장비를 여러 대 도입해 진행해 왔다.다만 이 경우,더 많은 설비를 도입함에 따라 생산 효율성이 떨어진다는 문제점이 제기돼 왔다.
이에 삼성전자는 지난해 하반기 CLT(챔버형 저주파 테스트)라는 새로운 장비 컨셉을 고안하고,엑시콘·네오셈 등에 메모리 테스터 개발을 요청했다.저주파 평가용 소형 장비 효율을 극대화한 챔버 형태로 만들어 메모리 테스터에 결합하는 것이 주 골자다.
삼성전자의 요청을 받은 엑시콘·네오셈은 곧바로 장비 개발에 착수했다.이후 지난달 말 기준으로 각각 데모 버전의 장비를 공급한 것으로 파악됐다.
신규 장비의 챔버는 약 1만1천 파라(para,로또1073회반도체 칩을 동시에 처리하는 단위)를 구현한 것으로 알려졌다.기존 장비가 약 500 파라를 수용할 수 있었던 점을 고려하면,제조라인 내 공간 및 운영비용을 효과적으로 절감하는 것이 가능해질 것으로 예상된다.
이번 장비 평가는 이르면 연내 마무리될 전망이다.범용 메모리 제품의 경쟁력에서 생산 효율성이 가장 중요한 요소로 지목되는 만큼,삼성전자도 적극적인 의지를 보이고 있는 것으로 전해진다.
업계 관계자는 "대형 챔버를 통해 파이널 테스트의 상세 공정을 통합하면 장비의 크기를 줄일 수 있어,삼성전자가 협력사에 먼저 신장비 개발을 요청한 것으로 안다"며 "올 하반기 중에는 상용화에 대한 윤곽이 나올 것"이라고 밝혔다.
